Η απόσταση των στοιχείων είναι πολύ μικρή.
Δεν υπάρχει αρκετός χώρος κοντά στα ψηλότερα εξαρτήματα, και δεν είναι δυνατή η λειτουργία ανιχνευτών πτήσης και άλλου εξοπλισμού.
Το σημείο δοκιμής είναι κρυφό ή καλυμμένο (για παράδειγμα, το σημείο δοκιμής έχει σχεδιαστεί στο κάτω μέρος του εξαρτήματος) και δεν μπορεί να αγγίξει το ηλεκτρικό σημείο δοκιμής.
Το OSP χρησιμοποιείται για τον έλεγχο του μεγέθους σημείου, του πολύ μικρού διαστήματος και του υλικού επίστρωσης συγκολλησιμότητας.